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EMI問題のトラブルシュート (WebID: 21288): MDO4000シリーズによるEMI問題の効果的な解決方法をご紹介 (48Z-28876-0)	Webinar	07-5-2013
MDO4000シリーズのスペアナ対オシロスコープのFFT (WebID: 21290): 従来のオシロスコープのFFTとは異なる、MDO4000シリーズの優れたスペアナ機能と性能をご紹介 (48Z-28891-0)	Webinar	07-5-2013
組み込みRFのトラブルシュート (WebID: 21287): 複雑なRF組み込み設計における問題に対して、クロス、ドメイン解析などMDO4000シリーズだけができる解決方法をご紹介 (48Z-28875-0)	Webinar	07-5-2013
組み込み設計における電源のトラブルシュート (WebID: 21289): MDO4000シリーズによる様々なデバイスからのノイズを解析するユニークな方法をご紹介 (48Z-28877-0)	Webinar	07-5-2013
テクトロニクスのeDPソリューション (WebID: 20495): 従来、ノートPC（GPUとT-CON間）の内部ディスプレイ・インタフェースとしては、LVDSが標準的に使用されてきました。高解像度化、色深度拡張の要求が増加していますが、これにともない、ケーブル間のスキューが大きな課題になってきました。 Embedded DisplayPort（eDP）はこうした新しい時代の要求に応えるインタフェースとしてVESAが規格、策定している新しいディスプレイ・インタフェースです。クロック・データ・リカバリの採用で、従来のLVDSで問題になっていたケーブルスキューを解決し、EMIの低減を実現しています。ノートPCやタブレット端末・そして携帯端末などのLVDSの代替規格として、またモバイル端末のみならずDTVなどの大型ディスプレイの分野にも採用が広がりつつあります。 (2 Pages, 48Z-28404-0)	クイック・ファクトシート	26-9-2012
DDRやSoCなど、高速デジタル回路の検証とデバッグ手法 (WebID: 20369): アナログ/デジタル信号や高速/低速のインタフェースが混在する､今日の高速デジタル回路設計では、解決すべき課題が山積しています。	Webinar	20-8-2012
デバッグ／解析機能を大幅に強化！5000/7000/70000シリーズ・オシロスコープ (WebID: 20362): (2 Pages, 48Z-28405-0)	製品記事	19-8-2012
シリアル・プロトコル・テスト・ソリューションにおけるTPI4000シリーズの概要 (WebID: 20087): TPI4000シリーズ・プロトコル・テスト・プラットフォームをご紹介したビデオでは、製品の開発プロセスでどのように使用されるかを説明しています。 (52Z-28010-0)	デモ	20-5-2012
Ethernet SFF 8431、SFP+規格のコンプライアンス／デバッグ(英文) (WebID: 19817): 増加するデータ量に対処するため、Fibre Channel、Ethernetトポロジを使用する高速ネットワークが進歩してくると、ホットプラグによるSFP+トランシーバなどの新しい技術が採用され、ネットワーク容量は増え、配備のためのコストが下がります。このウェブ・セミナでは、DPO70000C/Dシリーズ・オシロスコープによるSFP+設計のためのコンプライアンス測定や、自動コンプライアンス・テスト・ツールを使用した波形歪みペナルティ・テスト（TWDPc）など、複雑なデバッグ問題の解決方法について説明します。 (55Z-27800-0)	Webinar	27-2-2012
テクトロニクスのDDRソリューション (WebID: 15424): (8 Pages, 52Z-21167-9)	ブローシャ	26-1-2012

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