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アクセサリ
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差動プローブ
TDP1500型・TDP3500型
1.5 GHz and 3.5 GHz Voltage Differential Probes, TDP1500, TDP3500
(51Z-20565-3, WebID: 13427) |
13-5-2013 |
USB 2.0アプリケーション・ソフトウェア
USB・SR-USB・DPO4USB型
The Tektronix TDSUSB2 USB 2.0 Compliance test application and selected Tektronix oscilloscopes provide one-button compliance testing for USB 2.0 devices...
(61Z-26136-6, WebID: 17862) |
25-4-2013 |
HSIC（High-Speed Inter-Chip）ソリューション
HSIC Essentials
DSA/DPO70000Dシリーズ、MSO/DSA/DPO70000Cシリーズ、DPO7000Cシリーズ、MSO/DPO5000シリーズにOpt. HSICを装備することにより、HSICのデバイス／ホスト設計の電気的仕様のバリデーションのための自動セットアップとプロトコル検証が行えます。
(61Z-28708-0, WebID: 21020) |
25-3-2013 |
1.5GHz アクティブ・プローブ
TAP1500型
TAP1500 Active Probe
(51Z-19043-4, WebID: 13421) |
12-3-2013 |
P7630型 30GHz TriMode™プローブ
TriMode Probing enhances productivity by enabling differential, single-ended, and common mode measurements with a single probe setup. Connecting a probe...
(51Z-28184-0, WebID: 20880) |
07-2-2013 |
シリアル・データ・リンク解析ビジュアライザ (SDLA Visualizer) データシート
Opt. SDLA64、DPOFL-SDLA64
SDLAビジュアライザは、シリアル・データ・システムやモジュール、あるいはチップセットにおけるリンクの特定、測定経路から任意のコンポーネントのディエンベッド、仮想リンク・コンポーネントのシミュレート、イコライゼーションの適用、複数ポイントの測定を可能にします。
(61Z-28601-0, WebID: 20879) |
06-2-2013 |
シリアル・トリガ／解析アプリケーション
SR-AERO, SR-AUTO, SR-COMP, and SR-EMBD
MSO/DPO5000, DPO7000C, DPO/DSA/MSO70000C/Dシリーズのシリアル・トリガ／解析 はI2C, SPI, CAN, LIN, FlexRay, MIL-STD-1553, RS-232/422/485/UARTのパケット・レベルのトリガや信号、バスの観測、パケット・デコーディング解析が可能です...
(48Z-26149-5, WebID: 17769) |
21-1-2013 |
ジッタ／アイ・ダイアグラム解析ソフトウェア
DPOJET
Operating in the Tektronix DPO/DSA/MSO70000, DPO7000, and MSO/DPO5000 Series oscilloscopes, DPOJET provides engineers the highest sensitivity and accuracy...
(61Z-21170-9, WebID: 13555) |
14-1-2013 |
USB3.0レシーバ／トランスミッタ・テストの自動化ソリューション
TEKEXP/TEKEXPUP USB-TX • DPO/DSA7KB, DPO/DSA7KUP USB3
Tektronix’ TekExpress (TEKEXP) Automated Test Software is a
Windows-based application that runs on any Windows XP computer operating system including Tektronix...
(55Z-23929-8, WebID: 15291) |
06-1-2013 |
DDR解析ソフトウェア
DDRA
Option DDRA accelerates the analysis, validation, and JEDEC conformance testing of memory systems based on DDR1, DDR2, DDR3, and DDR derivative technologies...
(55Z-22329-7, WebID: 19088) |
25-12-2012 |
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