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혼합 신호 테스트 솔루션 소개 (WebID: 5732):
전자 설계가 점점 복잡해지면서 최상의 테스트 장비에 대한 정의가 점점 어려워지고 있습니다. “혼합 신호 테스트 솔루션 소개” 백서는 고객마다 다른 혼합 신호 환경 및 애플리케이션에서 각각 적합한 솔루션이 무엇인지 설명하고 있습니다. (2 Pages, 3GK-20213-3) |
백서(White Paper) |
02-5월-2008 |
MSO 또는 LA, 어떤 툴이 적합할까요? (WebID: 15808):
텍트로닉스에서 마련한 2 슬라이드 퀵 가이드는 두 제품 간의 차이를 빠르게 이해하고 더 적합한 툴을 결정하는 데 유용합니다. (2 Pages, 3GK-19999-0) |
참고 가이드 |
14-4월-2008 |
로직 애널라이저의 이해 (WebID: 2281):
Learn the basics and benefits of logic analyzers - see how this tool can solve your debug challenges. (52K-14266-2) |
기본 기술 설명서 |
28-5월-2007 |
SDRAM 메모리의 기본 (WebID: 4247):
DRAM(Dynamic Random Access Memory)은 광범위한 성능을 제공하기 때문에 설계자에게 매력적이며 컴퓨터 및 임베디드 시스템의 폭넓은 메모리 시스템으로 사용되고 있습니다. 본 입문서에서는 DRAM의 개념을 개략적으로 기술하고, 잠재적인 향후 DRAM 개발을 제기하며, 검증을 통한 메모리 설계 개선을 위한 개요를 제시합니다. (52K-19200-1) |
기본 기술 설명서 |
22-11월-2005 |
강력한 시장 조사를 통해 정의된 디지탈 설계 분석의 첨단 기술 (WebID: 2763):
Tektronix has debuted an innovative platform, concept and product series that redefines the measurement tool used for digital design analysis. The TLA700 Series is everything needed for digital design analysis -- faster, wider and deeper than conventional logic analyzers -- to meet the challenges of today's convergence era and beyond. |
백서(White Paper) |
09-2월-2005 |
식별하기 어려운 문제를 포착하는 로직 분석기 트리거링 기술 (WebID: 2365):
This application note explains how to use logic analyzer triggering to meet your design schedule and improve your design quality by capturing elusive problems and verifying your design implementation. (52K_18368_0) |
어플리케이션 노트 |
01-11월-2004 |
디지털 디버깅 시간 절약 팁 (WebID: 2319):
This application note explains how to speed up troubleshooting by using more of the features in your logic analyzer. (8 Pages, 57K_17683_2) |
어플리케이션 노트 |
01-10월-2004 |
Using Deep Memory To Find The Cause of Elusive Problems (WebID: 2300):
Using Deep Memory To Find The Cause of Elusive Problems (4 Pages, 52K-13153-1) |
어플리케이션 노트 |
01-9월-2000 |
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