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日付順  |
客観的画質評価測定の各種アプリケーション (WebID: 12008):
Objective versus Subjective picture quality measurements are vital to efficient and repeatable video processing design and evaluation. (25Z-20965-0) |
アプリケーション・ノート |
05-10-2007 |
ディスク・ドライブ設計のための測定ソリューション (WebID: 14790):
This application note illustrates a number of measurement techniques relevant to six general areas of disk drive design. It provides a summary of modern instrumentation and techniques available for probing, capturing, and analyzing electronic signals that are found in disk drive systems. (24 Pages, 49Z-12716-2) |
アプリケーション・ノート |
25-9-2007 |
任意波形／ファンクション・ゼネレータで実環境信号を再現 (WebID: 3204):
This application note will guide you through the steps required to replicate real world signals using the Tektronix AFG3000 Series and ArbExpress software. (8 Pages, 76Z-18661-1) |
アプリケーション・ノート |
21-9-2007 |
汎用パルス・ジェネレーション・ソリューションによるテスト (WebID: 11869):
This application note describes several applications in which modern general-purpose arbitrary/function generators (AFGs) can present a flexible, versatile and more affordable alternative solution to dedicated pulse generators. (12 Pages, 75Z-21097-0) |
アプリケーション・ノート |
17-9-2007 |
プリント基板の品質検証におけるクロストーク測定のための時間ドメイン手法 (WebID: 11499):
This application note discusses the elements of crosstalk and how you can measure it on a single-layer PCB using a sampling scope. (8 Pages, 85Z-16643-0) |
アプリケーション・ノート |
08-8-2007 |
PCI ExpressTM測定入門 (WebID: 4423):
この入門歯では、PCIExpressにおける検証、デバッグ、コンブライアンスだけでなく、基本原理、測定テクニック、確実な設計に必要となるツールについても説明します。この入門歯は、Genlデバイスに対応し、これからGen2デバイスのテストを始める方、あるいはPCIExpressを始めたばかりの方であっても、PCIExpressのアーキテクチャ、仕様、測定ソリューションが理解できるように説明しています。 (36 Pages, 4HZ-19375-1) |
入門書 |
31-7-2007 |
ザイリンクス社、アルテラ社FPGA のデバッグを簡単に (WebID: 4742):
This application note focuses on the issues and techniques that can help you become more efficient when debugging your FPGA systems. (52Z-20065-0) |
アプリケーション・ノート |
30-7-2007 |
CIF、ＳＤ、HDおよびＥ‐シネマ映像の主観的なビデオ画質評価予測を可能にする適応型視覚モデル (WebID: 11364):
(12 Pages, 25Z-21014-0) |
ホワイトペーパー |
20-7-2007 |
100Base-TXの物理層コンプライアンス・テスト (WebID: 2169):
This application note describes the various tests that engineers, designing or validating the Ethernet physical layer, need to perform on their products. (12 Pages, 61Z-17381-1) |
アプリケーション・ノート |
03-5-2007 |
ミックスド・デバイス開発におけるテスト信号の課題 (WebID: 5697):
With the need for more development and testing to be done in the digital baseband realm, interfaces are in transition from analog to digital. The signals being created by these innovative devices are increasingly complex and dynamic, driving a growing need to create signals which use complex modulation and multiplexing schemes which rapidly change frequency, amplitude, and phase. (8 Pages, 76Z-20551-0) |
ホワイトペーパー |
04-3-2007 |
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