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회로 분석에 대한 소개 (WebID: 14128):
(4 Pages, 3GK_17276_0) |
어플리케이션 팩트 시트(Application Fact Sheet) |
05-7월-2005 |
혼합 신호 테스트 솔루션 소개 (WebID: 5732):
전자 설계가 점점 복잡해지면서 최상의 테스트 장비에 대한 정의가 점점 어려워지고 있습니다. “혼합 신호 테스트 솔루션 소개” 백서는 고객마다 다른 혼합 신호 환경 및 애플리케이션에서 각각 적합한 솔루션이 무엇인지 설명하고 있습니다. (2 Pages, 3GK-20213-3) |
백서(White Paper) |
02-5월-2008 |
혼합 신호 임베디드 설계 디버깅 (WebID: 5822):
일반적으로 임베디드 설계에는 다양한 아날로그 신호, 고속 및 저속 직렬 디지털 통신 및 마이크로프로세서 버스 등이 통합되는 경우가 많습니다. 이 애플리케이션 노트는 MSO4000 시리즈 혼합 신호 오실로스코프를 이용하여 혼합 신호 임베디드 설계를 디버깅하는 방법을 설명하고 있습니다. (3GK-20215-1) |
어플리케이션 노트 |
18-11월-2008 |
프로브 대역폭 계산 (WebID: 2369):
Probe design is about minimizing the probe loading to such a point that the interaction is insignificant to the DUT. Unfortunately as signal speeds increase, it becomes more difficult to reduce probe loading to an insignificant level. However, not all oscilloscope probe designers... (12 Pages, 60K-18324-0) |
기술 개요 |
18-2월-2008 |
프로브 기초 (WebID: 2329):
프로브는 오실로스코프 측정의 핵심 입니다. 이 입문서는 프로브의 성능에 영향을 미치는 요인들과 애플리케이션에 맞는 프로브 선택 방법에 대해 설명 해 드립니다. (60K-6053-12) |
기본 기술 설명서 |
16-10월-2012 |
표준 및 고화질 디지털 비디오 측정 가이드 (WebID: 2210):
텍트로닉스에서 SD 및 HD 측정을 위한 가이드를 소개합니다. 본 가이드에서는 디지털 신호에 대한 기초에 대해 설명하고 신호가 유효하고 적절한지를 확인하는 측정을 살펴봅니다. (25K-14700-0) |
기본 기술 설명서 |
09-2월-2006 |
텍트로닉텍트로닉스 4000 시리즈 오실로스코프 제품군 (WebID: 12727):
(2 Pages, 3GK-20212-3) |
어플리케이션 팩트 시트(Application Fact Sheet) |
17-3월-2008 |
텍트로닉스 WFM6100, WFM7000, WFM7100 (WebID: 15379):
Key Specification and Ordering Information (2 Pages, 25K-19436-0) |
어플리케이션 팩트 시트(Application Fact Sheet) |
10-2월-2009 |
텍트로닉스 DSA8200과 DSA8300 샘플링 오실로스코프 간의 프로그래머블 인터페이스 교체 (WebID: 18600):
GPIB와 TekVisa에서 프로그래머블 인터페이스 (PI) 주석의 변화를 요약 해 놓은 파일 입니다. (85W-27063-0.pdf) |
백서(White Paper) |
06-6월-2011 |
텍트로닉스 CSA/TDS8200 지터 분석 애플리케이션 : 지터 및 노이즈 분석, BER 평가 (WebID: 3262):
본 백서에서는 지터와 노이즈 분석에 사용되는 지터 분리 및 분석 기법을 검토하고 지터와 노이즈 분리의 중요성에 대해 살펴봅니다. (14 Pages, 85K-18921-0) |
백서(White Paper) |
02-10월-2006 |
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