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検索対象 Title |
検索対象 種類 |
検索対象 日付順  |
100Gbps通信システムの物理レイヤ・テスト (WebID: 20725):
Physical Layer Tests of 100Gbps (20 Pages, 65Z-28494-1) |
アプリケーション・ノート |
02-12-2012 |
組込みシステム設計におけるシリアル・バスのデバッグ (WebID: 12641):
組込みシステムは、今日ではいたるところで目にすることができます。組込みシステムを簡単に定義すると、大型システム/機械をモニタ、制御するために、その一部として組込まれた、特殊用途のコンピュータ・システムと言えます。一般的な組込みシステムでは、電源を入れるとただちに特別なアプリケーションが実行され、電源がオフになるまで停止することはありません。今日では、ほとんどすべての電子デバイス、製品が組込みシステムであると言えます。組込みシステムの簡単な例を次に示します。 (40 Pages, 48Z-19040-11) |
アプリケーション・ノート |
10-4-2012 |
テクトロニクスのV-by-One®HSソリューション (WebID: 17567):
テクトロニクスのV-by-One®HSソリューション (1 Page, 48Z-25880-0) |
アプリケーション・ノート |
17-1-2012 |
デジタル回路設計のためのシグナル・インテグリティ検証ガイド(英文) (WebID: 14174):
デジタル・システムにおけるシグナル・インテグリティに関する課題について説明し、その原因、特長、影響、ソリューションについて説明しています。 (28 Pages, 54W-22137-1) |
入門書 |
10-1-2011 |
複雑なDigRFテストのソリューション(英文) (WebID: 11854):
どのような開発段階であっても、テスト機器には柔軟性が求められます。テスト機器は、検証だけでなく、DUT(被測定デバイス)が規格に準拠していることを確認できなければなりません。テクトロニクスのDigRFソリューションを使用することで、製品の性能を確実に把握し、いち早く市場に投入することができます。 (8 Pages, 52W-20776-0) |
テクニカル・ブリーフ |
10-1-2011 |
USB3.0計測/コンプライアンス・ソリューション (WebID: 15514):
USB3.0計測/コンプライアンス・ソリューション (2 Pages, 55Z-24071-3) |
アプリケーション・ファクトシート |
28-11-2010 |
テクトロニクスのLVDSソリューション (WebID: 17570):
現在LVDSインタフェースで直面している計測課題を解決する、テクトロニクスのソリューションをご紹介します。 (4 Pages, 55Z-25515-0) |
アプリケーション・ノート |
09-9-2010 |
高速シリアル規格のコンプライアンスと検証 (WebID: 2164):
~SATA/SAS、PCI Express、Ethernet、USB、HDMI/DisplayPort~
この入門書では、高速シリアル規格の概要から、物理的な適合性検証で直面する課題、アイや振幅などシリアル規格のコンプライアンス要件を考察します。続いて、3種類の代表的な規格の特徴に触れ、基本的なテストを含むさまざまな課題と、コンプライアンス・テスト、デバッグで注意すべき点に着目します。この一連の説明の中心となるのが、DUT(被測定デバイス)との接続、正確なテスト・パターンの生成、レシーバのテスト、データの取込み、データの解析、の5項目です。 (28 Pages, 55Z-16736-3) |
入門書 |
05-4-2010 |
DDRメモリの電気的検証 (WebID: 16174):
スマート・フォンからサーバまで、ほとんどすべての電子デバイスには、なんらかの形式のRAMメモリが使用されています。フラッシュ型NANDはさまざまな民生家電で今も数多く使われていますが、コンピュータやコンピュータベースの製品においては今なおSDRAMはメモリ技術の主流となっており、ビット単価も比較的安価でスピードとストレージ容量のバランスも優れています。スピードの高速化、大容量化を実現しつつ、低コスト、低予算、メモリ・デバイスの寸法の小型化を求める企業にとって、DDR(Double-Data-Rate) SDRAMは今日の主流となるメモリ技術であり、今なお進化しています。 (16 Pages, 55Z-23432-2) |
アプリケーション・ノート |
01-2-2010 |
HDMI テスト・ソリューション (WebID: 16381):
シンク/ソース/ケーブルのコンプレイアンス・テスト/デバッグのサポート (55Z-23473-0) |
アプリケーション・ファクトシート |
09-11-2009 |
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