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眼圖剖析入門手冊(英) (WebID: 17668): 本應用指南討論了怎樣剖析眼圖中的信息,獲取更強的洞察能力還討論了發射機,信道和接收機的部分基本測試方式 (12 Pages, 65W_26042_0)	應用摘要	30-九月-2010
串列資料相容性與驗證量測的基礎入門(英) (WebID: 2164): 本入門手冊旨在幫助您瞭解串列資料傳輸的常見面相，並說明這些新興串列技術適用的類比與數位量測需求。 (55W-16736-3)	初級	31-三月-2010
Tektronix 抖動量測2.0 版解決方案 (WebID: 4420): 一個可快速、準確解決複雜抖動問題的完整解決方案 (2 Pages, 55T-17692-3)	應用規格摘要表	04-三月-2010
串列通訊測試解決方案 (WebID: 16713): 支援發送器、接受器的測試和互連 (2 Pages, 55T-25104-0)	應用規格摘要表	04-三月-2010
顯示器測試解決方案 (WebID: 16712): 支援信號源、終端裝置和纜線的實體層測試 (2 Pages, 55T-25103-0)	應用規格摘要表	03-三月-2010
儲存裝置測試解決方案 (WebID: 12499): 支援主機、裝置和纜線所有資料傳輸率的實體層測試 (55C-21407-6)	應用規格摘要表	24-二月-2010
訊號完整性解決方案規格摘要表 (WebID: 14177): 功能強大的全面性產品組合，能克服訊號衰減挑戰。 (2 Pages, 54T-22138-0)	應用規格摘要表	24-二月-2010
Tektronix USB 測試解決方案 (簡中) (WebID: 13182): Tektronix 為電氣驗證與相容性測試、訊號路徑特性分析、數位驗證與除錯提供了 USB 解決方案，包括 MSO/DPO4000、MSO4000、DPO4000。 (55C-17700-6)	應用規格摘要表	19-二月-2010
SuperSpeed USB/PCIe Gen 3 相容性測試與驗證(英) (WebID: 16259): Tektronix 支援各種 SuperSpeed USB/PCIe Gen 3和相容性測試方法。 (26 Pages, 55W-24781-0)	白皮書	01-二月-2010
對USB 2.0 實體層測試的理解與實際操作 (WebID: 2161): USB 2.0 physical layer measurements and electrical compliance testing (55T_15027_0)	應用摘要	10-三月-2009

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