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Generatori di segnali e funzioni arbitrarie (WebID: 11360):  
(6 Pages)
Technical Article 19-lug-2007
Oscilloscopi per affrontare nuove sfide (WebID: 11358):  
Technical Article 19-lug-2007
I generatori di segnali aiutano a prevedere il jitter dei serializzatori/deserializzatori (WebID: 11347):  
Technical Article 18-lug-2007
Nuovi sviluppi nelle misure di potenza degli oscilloscopi (WebID: 11345):  
(8 Pages)
Technical Article 18-lug-2007
Oltre il fronte: nuove funzioni di trigger per soddisfare le esigenze di misura seriale (WebID: 11346):  
Technical Article 18-lug-2007
Software Defined Radio: integrare per innovare (WebID: 11348):  
(10 Pages)
Technical Article 18-lug-2007
Introduzione alle Soluzioni di test per segnali misti (WebID: 5732):  
La crescente complessità dei progetti elettronici dovuta al sempre più elevato contenuto digitale e seriale rende difficile stabilire quale sia il dispositivo di test ottimale. Gli ingegneri si occupano di progetti a “segnali misti” contenenti una considerevole combinazione di tecnologia analogica e digitale. I progettisti richiedono sempre più frequentemente attrezzature che consentano loro di correlare nel tempo i domini analogico e digitale in un unico strumento. Tradizionalmente l'analisi di segnali misti veniva eseguita utilizzando un oscilloscopio indipendente e un analizzatore logico; una soluzione, quindi, che comprende due componenti. Questa soluzione, tuttavia, risulta spesso poco pratica e può essere difficile ottenere risultati ottimali. L'esigenza di correlare forme d'onda analogiche e digitali ha portato allo sviluppo dell'oscilloscopio a segnali misti. (3GI-20213-0)
White Paper 02-apr-2007
Nel digitale, l'audio non è meno importante del video (WebID: 13211):  
Monitor
Technical Article 13-ott-2006
Risoluzione dei problemi di progettazione con gli oscilloscopi delle serie TDS1000B e TDS2000B (WebID: 4512):  
This step-by-step guide will help you to troubleshoot your everyday design issues with the TDS1000B and TDS2000B Series oscilloscopes. Includes instructions on getting started, checking for signal integrity, documenting results, analyzing waveforms and more. (3GI-19696-1)
Application Note 29-ago-2006
Analisi del jitter tramite un metodo di analisi spettrale (WebID: 2291):  
As tighter timing margins and faster clock rates drive today's high-speed designs, jitter is becoming a more significant cause of system errors. This application note will show you how to use real time jitter analysis tools with Rj/Dj separation to predict system bit error ratio. (55I-15631-1)
Application Note 01-mag-2006

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