时域反射计 (TDR)和S参数测量

简便快速的S参数测量方案DSA8200和VNA的比较 观看视频 
300k/DSL 或更快 | 100k/ISDN | 56k/Modem

时域反射计(TDR)提供了一种方便的评估，经过传输介质的阻抗值及其变化方式，如电缆、连接器或PC电路板微波传输带。可以象通常在时域中分析信号完整性一样，在时域中分析传输质量。在当前环境中，工程师使用建模工具设计这些高速电路。

在1Gbps及更高速度上，还必须评估采用S参数的互连的频域性能，可以使用IConnect® 软件简便高效地执行测量。Iconnect采用简化的频域校准过程，提供了适合串行数据S参数测量的频域动态范围，在研发和制造应用中大大提高了S参数测量的吞吐量。正如许多串行数据标准要求的那样，也可以使用Iconnect非常简便地进行基于夹具的S参数测量，因为IConnect校准使得夹具反嵌成为一个简单的测量步骤。

除阻抗测量和S参数测量外，在当前环境中，工程师还使用建模工具，设计这些高速电路。基于测量的Spice建模在设计上保证了模型的准确性，因为它与测量结果进行对比，并作为建模流程的一部分进行检验。可以简便地进行修改，校正任何检定问题。

英特尔和Samtec对VNA和TDR生成的S参数测量结果进行的相关性研究

• VNA和TDR/TDT提取的S参数之间的相关性 (491 KB)
  (Cherry Wakayama, Jeff Loyer) – 本文的目的是检验怎样使用IConnect®软件生成这些参数，代替广泛接受的VNA生成的数据。
• 矢量网络分析仪与IConnect®生成的S参数比较 < (161 KB)
  (Kieran Kelly – Samtec公司) – 本文介绍了Samtec完成的VNA生成的S参数与IConnect生成的S参数之间的对比分析结果。

成功案例:Altera发现检验高速可配置FPGA的性能要求灵活强大的测试仪器
阅读这篇客户成功案例，看看Altera公司是怎样评价CSA8200取样示波器的性能的。

应用信息

TDR速查表(111K)

TDR 和 S参数测量－你需要怎样的性能?
本文阐述在串行数据网络分析中关于调试、一致性测试、验证和表征的精确性需求。另外你将知道：对比传统的矢量网络分析仪，基于TDR的测试解决方案将为你提供了更有效和快捷的S参数测量方法。

TDR阻抗测量：信号完整性基础应用指南
在当前的高工作频率下，影响信号上升时间、脉宽、定时、抖动或噪声成分的任何东西，都会影响系统级可靠性。不匹配和变化可能会给信号完整性带来很大影响，因此必需理解和控制信号经过的传输环境中的阻抗。本应用指南说明了怎样才能实现稳定精确的TDR结果。

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