PCI Express®

PCI-Express是第三代I/O架构，通过提供点到点、高速度、低针脚数解决方案，满足了日益提高了I/O带宽需求。与此同时，这种架构也带来了新的必须解决的互通和一致性设计挑战。泰克完善的集成式系列工具包括数字调试和验证解决方案、模拟验证、一致性测试软件及设备检定解决方案，使您能够迅速高效地迎接设计挑战。

泰克PCI Express 2.0 解决方案

为PCI Express 1.0和2.0

电接口测试提供全面的一致性测试支持
PCI-SIG于2007年1月出版了PCI Express Base 2.0规范。这一规范以无缝的可兼容的方式把互连位速率提高了一倍，从2.5 GT/s提高到5 GT/s。PCI-SIG的PCI Express电接口测试程序详细描述了怎样使用泰克设备执行电接口测试，包括详细的示波器挂接方式。

电气验证和调试
PCI Express 2.0要求性能更高、用途更广泛的测量仪器。DSA70000示波器和分析软件DPOJET与突破性的任意波形发生器AWG7000和波形创建软件SerialXpress相结合，为PCI Express发射机和接收机提供了无可比拟的测试解决方案。

从物理层到协议栈执行数字验证和调试
PCI Express 2.0版规范的其它新增功能和改进功能包括动态链路速度和链路宽度管理、以及活动状态电源管理(ASPM)相关改进。为全面进行调试，不仅要求查看链路层和交易层，还要求查看物理层的逻辑子块。泰克提供了唯一能够全面查看物理层及以上各层逻辑子块的串行逻辑分析仪采集模块 。

PCI Express物理层信号路径检定
目前，PCI Express 2.0中的传输速度已经提高到5GT/s，信号完整性和传输影响正变得日益重要。作为基于TDR的解决方案的市场领导者，泰克数字串行分析仪采样示波器为串行数据网络分析应用提供了最大的性能，包括TDR性能、S参数带宽、信号保真度和RMS噪声。