泰克在线技术研讨会
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2009年7月8日
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2009年5月26日
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2009年3月19日
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2009年3月11日
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泰克DDR2/3最新测试解决方案 - 预告：2009年7月8日
DDR2/3目前正在逐渐渗透到计算机行业，通讯行业和消费电子行业的各个领域，随着DDR产品的更新换代和速度的提升，DDR测试给产品开发和测试工程师带来越来越多的困难和挑战。
本次网络研讨会将就以上问题以及泰克为此所推出的全新的DDR测试解决方案做深入的分析。
演讲专家
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奖品设置
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| 过往的在线研讨会 | |
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在当今无线通信中，各种时变和瞬变信号越来越多的被采用，泰克独有的实时频谱技术随之受到前所未有的关注。实时频谱仪已经从通常概念的频谱测试仪发展成为含盖多种应用领域的实时信号分析仪... |
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当前的高速系统设计要求比以往更多地关注细节。时域反射计(TDR)为评估传输线上的阻抗值和变化提供了一条方便的途径。在1Gbps及更高速度下，还必需评估使用S参数的互连的频域性能。 |
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您是否在嵌入式设计的混合信号调试中受到困扰？无法准确触发感兴趣的事件？无法同时观看整个波形和事件细节？ |
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在本次研讨会中，您将看到： 数字节目视频参数的相关规定: 数字节目图像质量的客观监测为什么要看RGB信号? 监测RGB信号为什么要看菱形显示? 怎样使用菱形显示监测数字节目技术质量? 原始记录的图像质量好坏的重要性 ...... |
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在本次研讨会中，针对各种速度的DDR SDRAM数据、命令和信号完整性测试，我们将向您介绍来自泰克的强大的、完善的解决方案。 |
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